HORIBA颗粒物监测GD-Profiler 2产品介绍产品详情
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颗粒物监测GD-Profiler 2-探索一个全新的世界
概 要
GD-Profiler 2™提供了快速、同时分析所有感兴趣的元素,包括氮、氧、氢和氯。是薄膜描述和工艺研究的理想工具。
配有RF光源,可以在脉冲模式下检测易碎的样品,GD-Profiler 2™的应用范围从对腐蚀的研究到PVD涂层的工艺控制,在大学被广泛用于常规的金属和合金产品的研究。
特 征
· RF射频发生器- 标准配置,符合E级标准,稳定性高,溅射束斑极为平坦,等离子体稳定时间极短,表面信息无任何失真。
· 脉冲工作模式既可分析常见的涂、镀层和薄膜,也可以很好的分析热传导性能差和热易碎的涂、镀层和薄膜。
· 多道(同时)型光学系统可全谱覆盖,光谱范围:110nm至800nm,包含远紫外,可分析C, H, O, N, Cl
· HORIBA Jobin Yvon 的原版离子刻蚀全息光栅保证了仪器有*大光通量,因而有*高的光效率和灵敏度
· 砖利HDD® 检测器可进行快速而高灵敏的检测,动态范围达到10个量级
· 宽大的样品室方便各类样品的加载
· 功能强大的QUANTUMT XP软件可以多种格式灵活方便的输出检测报告
· 激光指点器(CenterLite laser pointer,砖利申请中)可用于精准加载样品
· HORIBA Jobin Yvon独有的单色仪(选配件)可极大的提高仪器的灵活性,可同时测定N+1个元素